范圍
1.1 GB/T9639的本部分規(guī)定了在給定高度的自由落鏢沖擊下,測定塑料薄膜和薄片試樣破損數(shù)量達(dá)50%時的能量。以沖擊破損質(zhì)量表示。
本部分適用于塑料薄膜和厚度小于1mm 的薄片。
1.2 兩種試驗方法
1.2.1 A法:落鏢頭部直徑為(38士1)mm,下落高度為(0.66±0.01)m。適用于沖擊破損質(zhì)量為
0.05 kg~2 kg的材料。1.2.2 B法:落鏢頭部直徑為(50士1)mm,下落高度為(1.50士0.01)m。適用于沖擊破損質(zhì)量為0.3 kg~2 kg 的材料。
1.3梯級法試驗時用于改變落體質(zhì)量的配重塊質(zhì)量應(yīng)相同,根據(jù)前一個試樣是否破損,利用配重塊減少或增加落體質(zhì)量。
4、術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于GB/T 9639的本部分,
4.1沖擊破損質(zhì)量impact failure mass
在規(guī)定的試驗條件下,試樣破損數(shù)量達(dá)50%時統(tǒng)計出的落體質(zhì)量,以m表示。
4.2落體質(zhì)量missile mass
落鏢、配重塊和鎖緊環(huán)的質(zhì)量之和。
5儀器
儀器基本構(gòu)造如圖1所示
檢測儀器:落鏢沖擊試驗儀
8 試驗步驟
測量厚度8.1
按GB/T20220-2006或GB/T6672-2001的規(guī)定測量試樣的厚度。
注:GB/T6672-2001不適用于壓花薄膜和薄片。
8.2 儀器準(zhǔn)備
8.2.1 選擇A法或B法對儀器進(jìn)行設(shè)置。
8.2.2 使電磁鐵通電,將落鏢(見5.7)的圓柄垂直插人磁性連接器里。調(diào)整落體下落高度(從被夾試樣表面到落鏢頭部的底部表面的垂直距離)至(0.66+0.01)m(A法)或(1.50士0.01)m(B法)。警告:為安全起見,調(diào)節(jié)高度時應(yīng)移走落鏢。
8.2.3 將預(yù)試驗試樣緊固于環(huán)形夾具之間,落鏢上不加配重塊,斷開電磁鐵釋放落鏢,觀察落鏢沖擊試樣點,落鏢由試樣表面彈開后應(yīng)及時捕捉。必要時調(diào)整電磁鐵位置,重復(fù)預(yù)試驗,直到落鏢重復(fù)沖擊被夾試樣中心位置。
8.2.4 檢查試樣任何滑動的跡象。如果有滑動,該試驗結(jié)果應(yīng)舍棄。隨著落體質(zhì)量和下落高度的增加,試樣滑動的可能性會增大,有些材料的滑動會更厲害。下列兩種方法用于檢查試樣是否滑動。8.2.4.1 在落鏢下落前,沿上夾具內(nèi)壁,在試樣表面用記號筆畫一個圓圈,但對試樣只能施加記號筆本身的壓力。待落鏢下落后移開試樣前,用另外一種顏色的記號筆畫一圓圈,如果在圓周的任何一位置出現(xiàn)雙線,則表示存在滑動。
警告:為安全起見,畫圓圈時應(yīng)移走落鏢。
8.2.4.2 對于采用橡膠墊圈貼細(xì)紗布或砂紙的方式夾緊試樣,只需檢查沖擊后試樣夾緊部位的劃痕,如果有,則表明存在滑動。
8.3 梯級試驗(見1.3)
8.3.1根據(jù)相關(guān)材料規(guī)定或雙方協(xié)議,選擇使用A法或B法。
8.3.2測量并記錄試樣沖擊區(qū)域的平均厚度,精確到0.001mm(見8.1)。
8.3.3
3選擇的落體質(zhì)量應(yīng)接近于預(yù)計的沖擊破損質(zhì)量。將所需數(shù)量的配重塊加置落鏢圓柄上,并裝上
鎖緊環(huán),使配重塊安全固定。
8.3.4選擇的配重塊m應(yīng)與試樣的沖擊強度相適應(yīng)。通常 m值約等于5%~15%沖擊破損質(zhì)量m:,配重塊須選擇3~6個(至少3個)。
8.3.5 將第一個試樣放在下夾具上,確保試樣均勻平整,沒有折痕,完全覆蓋在橡膠墊圈上。與環(huán)形夾具的上夾具夾緊。
8.3.6使電磁鐵通電,將落鏢放好位置。使電磁鐵斷電,落鏢即下落。如果落鏢由試樣表面彈開,應(yīng)及時捕捉,防止反復(fù)沖擊試樣表面以及沖擊損傷落鏢的半球接觸表面。8.3.7檢查試樣任何沿動的跡象。如果有滑動,該試驗結(jié)果應(yīng)舍棄。
8.3.8檢查試樣是否破損。在試樣背面照明的條件下,試樣穿透即為破損。將結(jié)果記錄在格紙上,詳
見圖 2,用“O”表示不破損,“x”表示破損。
8.3.9 如果第一個試樣破損,用配重塊m 減少落體質(zhì)量。如果第一個試樣不破損,須用配重塊 Am增加落體質(zhì)量。依次繼續(xù)進(jìn)行試樣,總之,利用配重塊減少或增加落體質(zhì)量,取決于前一個試樣是否破損。
8.3.1020個試樣試驗后,計算破損的總數(shù)N。如果N等于10,試驗完成。如果N不等。
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